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1試驗(yàn)項(xiàng)目
試驗(yàn)時(shí)，設(shè)備/隔室狀況應(yīng)盡可能與實(shí)際運(yùn)行情況相符，如果對(duì)整臺(tái)設(shè)備/隔室進(jìn)行密封試驗(yàn)有困難時(shí)，可在分裝部件或元件上進(jìn)行試驗(yàn)。分裝部件或元件的允許漏氣率與設(shè)備/隔室的漏氣率的關(guān)系由密封對(duì)應(yīng)圖確定。
如果試品充入的氣體和/或壓力不同于正常運(yùn)行中使用的氣體或壓力，制造廠應(yīng)提供校正系數(shù)加以換算。試品應(yīng)分別在分、合閘位置進(jìn)行密封試驗(yàn)，如已證明密封與分、合閘位置無關(guān)或其中一種位置的密封試驗(yàn)?zāi)芡耆萘硪环N位置的密封試驗(yàn)時(shí)，則可只在該種位置進(jìn)行密封試驗(yàn)。
1.1 常溫下的密封試驗(yàn)
1.1.1 在常溫下，試品所充的氣體、壓力與實(shí)際運(yùn)行的氣體、壓力相同，經(jīng)機(jī)械操作試驗(yàn)后分別在分、合閘位置進(jìn)行密封試驗(yàn)。
1.1.2 常溫下機(jī)械壽命試驗(yàn)前、后的密封試驗(yàn)
常溫下機(jī)械壽命試驗(yàn)前、后的密封試驗(yàn)按1.1.1條進(jìn)行。
1.1.3 現(xiàn)場(chǎng)安裝后的密封試驗(yàn)
現(xiàn)場(chǎng)安裝對(duì)密封有影響的部位在常溫下應(yīng)進(jìn)行密封試驗(yàn)。如有其他要求，用戶與制造廠協(xié)商。
1.2 高、低溫密封試驗(yàn)
1.1.1 條的各項(xiàng)規(guī)定也適用于高、低溫密封試驗(yàn)。
對(duì)用于不低于-10℃的戶內(nèi)設(shè)備，不要求進(jìn)行低溫密封試驗(yàn)。
試驗(yàn)時(shí)的周圍空氣溫度應(yīng)該在設(shè)備/隔室高度的一半及距離設(shè)備/隔室1m處測(cè)量，在設(shè)備/隔室高度的上部溫度偏差不超過5K。
1.2.1 低溫密封試驗(yàn)
a. 在周圍空氣溫度20±5℃(TA)下，按照1.1.1條設(shè)備/隔室處于分、合閘位置進(jìn)行密封試驗(yàn)。
b. 設(shè)備/隔室處于合閘位置，根據(jù)設(shè)備/隔室的分類，將周圍空氣溫度降低到相應(yīng)的最低空氣溫度TL(TL值是-30℃或-40℃)且穩(wěn)定在TL后，保持24h期間，應(yīng)進(jìn)行密封試驗(yàn)。當(dāng)周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時(shí)的漏氣率恢復(fù)到原有值，允許低溫時(shí)的漏氣率增加，但不得大于三倍允許漏氣率。
c. 設(shè)備/隔室在低溫TL下保持分閘位置24h，在24h期間，應(yīng)進(jìn)行密封試驗(yàn)。如果周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時(shí)的漏氣率恢復(fù)到原有值，允許低溫時(shí)的漏氣率增加，但不得大于三倍允許漏氣率。
d. 24h終止時(shí)，在TL下，設(shè)備/隔室應(yīng)以其額定操作電壓及額定操作壓力進(jìn)行50次合閘和50次分閘操作，然后空氣溫度應(yīng)以每小時(shí)10K的變化率增加到周圍空氣溫度且穩(wěn)定在TA，按1.1.1條重新做密封試驗(yàn)，其漏氣率應(yīng)與原有值相同。
1.2.2 高溫密封試驗(yàn)
a.在周圍空氣溫度20±5℃(TA)下，按照1.1.1條，設(shè)備/隔室分別處于分、合閘位置進(jìn)行密封試驗(yàn)。
b.設(shè)備/隔室處于合閘位置，將周圍空氣溫度升到40℃且穩(wěn)定時(shí)，保持24h。在24h期間應(yīng)進(jìn)行密封試驗(yàn)。如果周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時(shí)的漏氣率恢復(fù)到原有值，允許高溫時(shí)的漏氣率增加，但不得大于三倍允許漏氣率。
c.在溫度40℃下，設(shè)備/隔室處于分閘位置保持24h，在24h期間應(yīng)進(jìn)行密封試驗(yàn)，如果周圍空氣溫度恢復(fù)到TA且穩(wěn)定時(shí)的漏氣率恢復(fù)到原有值，允許高溫時(shí)的漏氣率增加，但不得大于三倍允許漏氣率。
d.24h終止，在溫度40℃下，設(shè)備/隔室應(yīng)以其額定操作電壓及額定操作壓力分別進(jìn)行50次合閘到50次分閘操作，然后空氣溫度應(yīng)以每小時(shí)10K的變化率降低到周圍空氣溫度且穩(wěn)定在TA，按1.1.1條重新做密封試驗(yàn)，其漏氣率應(yīng)與原有值相同。
注：① 低溫密封試驗(yàn)與高溫密封試驗(yàn)并不需連續(xù)進(jìn)行，此兩項(xiàng)試驗(yàn)的順序可以任意。
② 如果高溫密封試驗(yàn)昆接著低溫密封試驗(yàn)后進(jìn)行，則1.2.2條a項(xiàng)可以不作，或者
低溫密封試驗(yàn)緊接在高溫密封試驗(yàn)后進(jìn)行，規(guī)1.2.1條a項(xiàng)可以不作。
1.2.3 當(dāng)高、低溫密封試驗(yàn)測(cè)量有困難時(shí)，可在高、低溫密封試驗(yàn)前、后，在常溫下進(jìn)行密封試驗(yàn)，以確定是否有了變化。
1.2.4 當(dāng)高、低溫密封試驗(yàn)條件不具備時(shí)，制造廠和用戶協(xié)商，在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行考核。
1.2.5 封閉式組合電器，采用典型元件應(yīng)在機(jī)械壽命試驗(yàn)和溫升試驗(yàn)前、后進(jìn)行密封試驗(yàn)，不再進(jìn)行高、低溫密封試驗(yàn)。
注：實(shí)際上漏氣率的測(cè)量可能有±50%的誤差。
信息整理：揚(yáng)州拓普電氣科技有限公司   信息來源：ewkbg.com